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日本理学ZSX Primus III+上照射一连波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)

Rigaku ZSX Primus III+ 可快速定量测定种种样品类型中从氧 (O) 到铀 (U) 的主要和次要原子元素-使用最少的标准品。 优点

实现粉末、固体样品差别元素差别含量的高精度剖析。

高精度定位样品台知足合金剖析高精度要求。

特殊光学系统镌汰样品外貌不平而引起的误差。

样品室可简朴移出利便清洁。

操作界面精练、自动化水平高。


清静性

接纳上照射设计,样品室可简朴移出 ,再不必担心污染光路 ,整理贫困和增添整理时间等问题。


■ 应用领域

固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素剖析。


■ 手艺参数

元素从BeU的剖析。

上照射式的光学器件使污染问题最小化。

占地面积小 ,需要使用的实验室空间小。

高精度样品定位。

特殊光学元件可镌汰曲面样品外貌造成的误差。

统计历程控制软件工具(SPC。

可以凭证样品量自主调理真空。


上一个:日本理学ZSX Primus 400一连波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF) ,用于大样品下一个:日本理学ZSX Primus IV下照射波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)
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